HAST高压蒸煮

HAST 高压蒸煮

关键词：HAST、高压蒸煮

HAST测定是指通过特定的高温高压水蒸汽环境来模拟芯片等微型元件在实际应用中的使用环境。该测试方法可有效推测样品在潮湿环境下的耐久性和可靠性，并有助于更好地评估样品的耐久性和可靠性。

测试项目

样品在高温高压蒸汽环境下持续运行100小时，检测其外观、尺寸、结构、材料性质、其它相关性能等指标是否符合要求。

测试条件

温度：110℃ ± 2℃

压力：0.147Mpa ± 0.02Mpa

湿度：**** RH

时间：100小时

国内外测试标准

国内：GB/T 2423.35-2016

国外：JEDEC、Mil-STD-883等

样品要求

1. 样品应为实际使用的元器件或电路板等，其尺寸符合相关标准；

2. 样品应符合产品标准要求；

3. 样品应在试验前至少保持14天在条件下熟化；

4. 样品在试验前应烘干至质量稳定。

测试流程

1. 样品进入试验室，进行详细检查并记录外观、尺寸、结构等信息；

2. 样品放入高压蒸煮仪中，设置试验条件并开始试验；

3. 在试验结束后取出样品，进行外观检查、材料性质检测、尺寸测量等检测项目；

4. 测试过程中，对试验数据进行记录、整理，制作测试报告。

测试报告

1. 样品信息：包括样品名称、型号、数量等信息；

2. 测试条件：包括温度、湿度、压力等参数的记录；

3. 检测项目：包括外观检查、材料性质检测、尺寸测量等检测项目的结果；

4. 结果解释：对检测结果进行分析、解释和结论；

5. 报告附件：包括图表、数据记录等附件。